Laboratoire privé spécialisé dans l’analyse, les essais et l’expertise des matériaux depuis 1993

La fiabilité des systèmes mécatroniques est devenue un enjeu primordial dans l’industrie. Le fait que 60% des pannes techniques sont issues des systèmes mécatroniques indique la marge de progression à réaliser. Il est nécessaire pour les industriels de mener les investigations nécessaires à la résolution du problème afin de comprendre l’origine du court-circuit.

La recherche d’un défaut sur un système mécatronique et ses composants peut s’avérer très longue et difficile à mettre en œuvre du fait des dimensions des différents composants électroniques actuels.

Le couplage caractérisation-vieillissement-expertise du laboratoire et de nos partenaires permet une identification complète des phénomènes de défaillances d’un système ou d’un sous-système.

Nos équipements vont nous permettre de localiser la défaillance tout en utilisant des méthodes destructives ou non-destructives. Les observations et les caractérisations réalisables nous permettront :
De localiser plus précisément le défaut (même à l’intérieur d’un composant électronique) en déterminant sa forme et ses dimensions ;
• D’analyser le défaut en surface ou en coupe, en microscopie optique et électronique, afin de réaliser une analyse élémentaire permettant d’identifier l’origine de la défaillance.

Tout en disposant du matériel nécessaire à la réalisation de test de fiabilité en vieillissement accéléré :
Sous contrainte environnementales (Brouillard salin, Température, Humidité, Choc thermique,..)
En cycle vibratoire et thermique (Pot Vibrant, Banc multi-axes, Vibrométrie laser,…)

Toutes ces possibilités s’inscrivent dans le cadre de notre solution globale sur la fiabilité des systèmes : KEO6


Exemple d’application :

Analyse d’un défaut à l’intérieur d’une thermistance électrique
Mise en évidence par Microtomographie X

Localisation du corps étranger au niveau de la thermistance
Plan d observation

Caractérisation du défaut par analyse élémentaire

Cliché du plan d observation par microscopie électronique
Observation du corps étranger
Analyse élémentaire pour identification

Exemples de moyens techniques associés :

MICROTOMOGRAPHIE A RAYONS X


Caractérisation d’un défaut interne par méthode non-destructive L’analyse par microtomographie X (...)

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MICROSCOPIE OPTIQUE HAUTE RESOLUTION


Principe de fonctionnement : Cet équipement permet l’inspection d’échantillons sur 360 degrés, (...)

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MICROSCOPIE ELECTRONIQUE


Cet équipement permet de fournir rapidement des informations sur la morphologie et la (...)

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ANALYSEUR DE LA TENSION DE SURFACE


Pour compléter notre parc d’équipements en terme de caractérisation des surfaces, le laboratoire (...)

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