Moyens Technologiques

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    Microtomographie X




    Caractérisation d’un défaut interne par méthode non-destructive

    L’analyse par microtomographie X permet le diagnostic d’un assemblage sans nécessiter de destruction. Cette technique non-destructive permet la recherche de défauts tels que fissures, porosités, inclusions, fuites, calage, soudure,....
    Cette technique innovante de diagnostic permet de visualiser les défauts dans les 3 dimensions d’un composant. Elle permet aussi de contrôler des pièces à hautes valeurs ajoutées par la détection et/ou la visualisation de défauts.
    L’expertise de fuites, de répartition de charges, de principes actifs, de porosités, ou encore de phénomènes de fissuration seront menés par cette analyse.
    Nous vous fournirons également un viewer afin de visualiser les assemblages dans les moindres détails.

    Principe de fonctionnement :

    Une source de rayonnement X illumine un objet et un détecteur qui rassemble toutes les radiographies X. L’objet tournant, de nombreuses radiographies X sont acquises sous des angles différents. Une compilation des données numériques permet de reconstituer cet objet suivant un contraste densitométrique. Il est alors possible d’inspecter la structure interne de l’objet, de réaliser une reconstruction en 3 dimensions.

    Caractéristiques :

    - Source de rayons X : 20-100 kV, 10W, taille du faisceau < 5µm
    - Détecteur de rayon X : 11 Mégapixels, caméra CDD thermorégulée et reliée par fibre optique au scintillateur
    - Taille maximale de l’objet observé : 50 mm de diamètre
    - Plus petit détail discernable : < 0,8 µm en mode haute résolution
    - Protection au rayonnement X : Dose inférieure à 1µSv / h en tout point de l’équipement

    Accessoires optionnels :

    Une platine cryogénique :
    Visualisation d’un bloc de glace (à gauche la platine et le bloc, à droite l’objet reconstruit)

    Une platine de micro-positionnement :
    Permet d’améliorer le centrage de l’objet par rapport à la zone radiographiée


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